Ｘ光分辨率解析卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211126-08
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Ｘ光分辨率解析卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211126-08
銷售產(chǎn)家：固安縣雙玉儀器有限公司
分辨率測(cè)試卡，JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè)，把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。
射線吸收材料
射線吸收材料多為重金屬,可以用鉛箔或鎢箔,標(biāo)準(zhǔn)引進(jìn)了鉛當(dāng)量的概念,所以就不再提到鎢箔,表述為“射線吸收材料用鉛箔或與鉛當(dāng)量相當(dāng)?shù)慕饘俨！?/span>
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測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規(guī)格圖案
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
本公司經(jīng)營(yíng)線對(duì)卡業(yè)務(wù)和其他相關(guān)產(chǎn)品的業(yè)務(wù)，更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會(huì)給您更加滿意的解答，期待您的到來。
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