空間分辨率測試卡
銷售產品編號：20221122-08
產品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率是指圖像中可辨認的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細微結構的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設備的分辨率能力的，是X射線放射衛生質量控制，質量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態檢測:在運行中的設備，為評價其性能指標符合要求而定期進行的質量控制檢測。穩定性檢測:為確定X射線設備或在給定條件下獲得的數值相對于一個初始狀態的變化符合控制標準而進行的質量控制檢測。周期對系統的成像性能進行持續檢測，尤其是對那些依賴定期維護設備。當完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細節和條形圖的數量進行統計，即可量化圖像質量。對這些數據的持續追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統的性能情況，對可能出現的問題進行及時預判及校準。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷售產品編號：20221122-08
產品銷售制造廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率測試卡
銷售產品編號：20221122-08
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空間分辨率是指圖像中可辨認的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細微結構的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設備的分辨率能力的，是X射線放射衛生質量控制，質量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態檢測:在運行中的設備，為評價其性能指標符合要求而定期進行的質量控制檢測。穩定性檢測:為確定X射線設備或在給定條件下獲得的數值相對于一個初始狀態的變化符合控制標準而進行的質量控制檢測。周期對系統的成像性能進行持續檢測，尤其是對那些依賴定期維護設備。當完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細節和條形圖的數量進行統計，即可量化圖像質量。對這些數據的持續追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統的性能情況，對可能出現的問題進行及時預判及校準。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
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空間分辨率測試卡
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空間分辨率是指圖像中可辨認的臨界物體空間幾何長度 的小極限,即對細微結構的分辨率。線對卡，空間分辨率測試線對卡，列陣的線對束卡的用途：主要是用來測試X光攝影攝像等成像設備的分辨率能力的，是X射線放射衛生質量控制，質量保證的射線分辨率范圍的主要檢測裝置和測試工具。狀態檢測:在運行中的設備，為評價其性能指標符合要求而定期進行的質量控制檢測。穩定性檢測:為確定X射線設備或在給定條件下獲得的數值相對于一個初始狀態的變化符合控制標準而進行的質量控制檢測。周期對系統的成像性能進行持續檢測，尤其是對那些依賴定期維護設備。當完成初始灰度級檢測后，只需對檢測到的圖像細節和條形圖的數量進行統計，即可量化圖像質量。對這些數據的持續追蹤記錄將有助于用戶跟蹤系統的性能情況，對可能出現的問題進行及時預判及校準。
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
規格
外徑：W40xD30xT3毫米
硅基芯片尺寸8x8x0.2mm
銷售產品編號：20221122-08
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